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正確使用光學厚度測量儀需遵循以下5個步驟

更新時間:2023-04-24  |  發布時間:2023-04-24  |  點擊率:280
  光學厚度測量儀是一種用于測量物體的厚度、膜層厚度和光學性質的設備。它基于光學原理,利用光的反射或透射特性來測量不同材料的厚度。
 

 

  正確使用光學厚度測量儀需要遵循以下步驟:
  1.準備工作:將設備放置在水平表面上,并打開儀器電源;
  2.校準儀器:對于新設備,首先需要進行校準。校準時應選擇一個已知光學厚度的參考樣品,將其放入設備中,并按照儀器的說明書進行操作。在校準過程中,應檢查儀器是否能夠正確讀取樣品的厚度值;
  3.放置待測物體:將待測物體放入設備中,注意使其與設備表面保持垂直。如果要測量薄膜的厚度,則需將薄膜放置在清潔、平整的基片上;
  4.測量:啟動測量程序,等待設備自動識別樣品并測量。在此期間,應確保樣品與設備表面始終保持穩定,以免影響測量結果;
  5.記錄結果:測量完成后,讀取并記錄設備顯示的結果。對于需要多次測量的樣品,應進行多次測量并計算平均值。
 
  需要注意的是,在使用光學厚度測量儀時,還需遵守以下注意事項:
  1.保持設備干燥、清潔:由于測量精度較高,設備表面的灰塵、污垢會影響測量結果,因此應定期清潔設備表面;
  2.避免過度壓縮樣品:在放置待測物體時,應輕輕放置,以免過度壓縮樣品導致誤差;
  3.注意溫度變化:由于溫度變化會導致物體的膨脹或收縮,因此在連續測量不同樣品時,應等待設備恢復到穩定溫度后再進行下一次測量。
 
  總之,正確使用光學厚度測量儀需要遵循一定的操作規程,并注意設備的維護和保養,以確保測量結果的準確性和可靠性。
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