硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

Thetametrisis便攜式光學膜厚儀FR-prtable是一款*的USB便攜式測量儀器，可對透明和半透明的單層或多層堆疊薄膜進行準確的無損（非接觸式）表征。

顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。

FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。