硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。

Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

Thetametrisis便攜式光學膜厚儀FR-prtable是一款*的USB便攜式測量儀器，可對透明和半透明的單層或多層堆疊薄膜進行準確的無損（非接觸式）表征。

FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以依據各種不同應用設置多個參數的實時測量，例如：反射率和透射率光譜、厚度、色座標。 FR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標準 Windws 10/11 中執行。

FR-ES膜厚測量儀是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。 使用FR-ES，用戶可以在370-1020nm光譜范圍內進行反射率和透射率測量。